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硬盘技术发展前景分析:矛盾引发变革

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三、固件存储转移:矛盾引发变革

  现在的硬盘密度越来越高,所以很难做到100%的完美,硬盘盘面上或多或少存在一些缺陷。厂商在硬盘出厂前把所有的硬盘都进行低级格式化,在低级格式化过程中将自动找出所有坏道和坏扇区,记录在永久缺陷列表(P-list,Permanent defect list)中。并且在对所有磁道和扇区的编号过程中,将跳过这些缺陷部分,让用户永远不能用到它们。而为了减少硬盘返修的概率,硬盘厂商又在硬盘内部设计了一种自动修复机制。现在生产的硬盘都有这样的功能:在对硬盘的读写过程中,如果发现一个坏扇区,则由内部管理程序自动分配一个备用扇区来替换该扇区,并将该扇区物理位置及其替换情况记录在G-list(增长缺陷表,Grown defects list) 中。这样一来,少量的坏扇区有可能在使用过程中被自动替换掉了,对用户的使用没有太大的影响。

硬盘技术发展前景分析:矛盾引发变革

可以读写负磁道固件的PC3000专业工具

  以往,P-list和G-list被保存在硬盘固件中,这是这一固件并非类似主板上那种单一的FlashROM芯片,而是硬盘的负磁道,即磁头在普通情况下无法定位到的零磁道零扇区之前。可是,这种设计看似避免了FlashROM芯片反复擦写而导致的损坏问题,但是硬盘磁盘本身的稳定性也非常有限。据统计,大约有30%以上的硬件故障为固件问题,譬如G-list溢出、固件区坏道等。因此,改变固件的存储方式已经成为当务之急。

  现在,整个业界都在谈论混合式硬盘,甚至固态硬盘。让我们感到兴奋的是,无论是混合式硬盘还是固态硬盘,其存储部分都加入了闪存结构,并且基本解决了可擦写寿命的限制。在这一大前提下,硬盘厂商可以将固件信息从负磁道挪到闪存部分。得益于闪存的稳定性以及无需控制磁头的便利,硬盘厂商可以轻轻松松地开辟更大容量的固件,并且基本杜绝固件损坏的现象。此外,当引入闪存结构之后,硬盘的G-list和P-list管理机制也会发生一些改变,因为固件区的稳定性和容量都更大了,而硬盘的存储密度也大幅度提高,此时完全可以更加严格地控制那些存在缺陷的扇区。尽管这种处理方法很可能让硬盘容量越用越小,但是相比于整盘的稳定性以及寿命而言,这点牺牲实在是微不足道。

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